渦電流膜厚計(jì) LH-373
渦電流膜厚計(jì)の測(cè)定原理
一定の高周波電流を流した誘導(dǎo)
コイルを金屬に近づけると、金屬
表面上に渦電流が生じます。
この渦電流は誘導(dǎo)コイルと金屬
面との距離に応じて変化し、その
ため誘導(dǎo)コイル両端にかかる電
圧も変化します。
この変化を電流値から読み取り
膜厚に換算します。
非磁性金屬
上の絶縁被膜を測(cè)定できます
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