產(chǎn)品詳情
混合信號(hào)器件包括數(shù)字電路和模擬電路,因此需要測(cè)試系統(tǒng)包含這兩部分的測(cè)試儀器或結(jié)構(gòu)日本HD精密測(cè)試諧波FHA-32C-100-E250-C?;旌闲盘?hào)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展為兩個(gè)系列:大部分?jǐn)?shù)字電路測(cè)試結(jié)構(gòu)、少量模擬測(cè)試結(jié)構(gòu)的系列,被設(shè)計(jì)成用于測(cè)試以數(shù)字電路為主的混合信號(hào)器件,它能有效地進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和功能測(cè)試,但是僅支持少量的模擬測(cè)試;大部分模擬電路測(cè)試結(jié)構(gòu)日本HD精密測(cè)試諧波FHA-32C-100-E250-C、少量數(shù)字測(cè)試結(jié)構(gòu)的系列,相反,能夠精確地測(cè)試模擬參數(shù)而在功能測(cè)試上稍遜風(fēng)騷。
僅含有數(shù)字邏輯的電路器件可使用數(shù)字電路測(cè)試系統(tǒng)來(lái)完成測(cè)試,這些測(cè)試系統(tǒng)之間在價(jià)格、性能、尺寸、可選項(xiàng)上有著明顯的不同。
低端的測(cè)試機(jī)被用來(lái)測(cè)試低價(jià)格或者低性能的低端產(chǎn)品,通常是些管腳少日本HD精密測(cè)試諧波FHA-32C-100-E250-C、復(fù)雜度低的器件;一般運(yùn)行于低于20MHz的時(shí)鐘頻率,且只能存儲(chǔ)少量的測(cè)試向量;用于小規(guī)模(SSI)或中規(guī)模(MSI)集成電路的測(cè)試。