產(chǎn)品詳情
特點(diǎn)
-300nm-1050nm范圍內(nèi)具有單分子級檢測能力。
-寬范圍時(shí)間壽命測量能力：標(biāo)準(zhǔn)100ps-100ms，頻域技術(shù)可低至10皮秒
-熒光強(qiáng)度和壽命成像可同時(shí)獲得（空間分辨率可達(dá)衍射極限低至250nm）
-光學(xué)切面3D掃描，分辨率低至50nm
-掃描最大樣品區(qū)域可至100×100mm
-集成軟件（64bit），具有系統(tǒng)控制，數(shù)據(jù)采集和分析能力
-集成設(shè)計(jì)，具有靈活定制化能力，滿足客戶不同研究領(lǐng)域的靈活配置，提升研究效率
應(yīng)用
-材料科學(xué)研究
-半導(dǎo)體材料表征
-太陽能電池材料
-晶體材料
-其他光致發(fā)光材料
PL1創(chuàng)新性設(shè)計(jì)
PL1是一種操作簡便高度集成的激光共焦掃描熒光成像設(shè)備，能zei大限度的為客戶提供高效穩(wěn)定的使用時(shí)間，便捷的測試能力。PL1提供高靈敏度檢測能力，是一種理想的材料科學(xué)單分子測量儀器，易于操作。
常規(guī)測量能力
-
強(qiáng)度和熒光壽命成像
-光致發(fā)光共焦強(qiáng)度成像
-光致發(fā)光共焦壽命成像，XYZ和T多維度，具有掃描和單點(diǎn)模式
-
FFS熒光變動(dòng)光譜
-熒光相關(guān)光譜（FCS)
-光子計(jì)數(shù)直方圖（PCH）
-熒光壽命相關(guān)光譜（FLCS）
-
單分子成像
-Burst分析
-單分子FRET熒光共振能量轉(zhuǎn)移分析
應(yīng)用案例
量子點(diǎn)
Figure 1Phasor plots相量圖可獨(dú)立區(qū)分基體涂層量子點(diǎn)熒光壽命種類，直接從原始數(shù)據(jù)獲得。激發(fā)波長470nm，發(fā)射波長499-632nm（熒光），475/35nm（反射），掃描區(qū)域17.5μm×17.5μm。（Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette，IN;USA)
鈣鈦礦表征
Figure 2鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發(fā)光（熒光）強(qiáng)度。ISS VistaVisiontion提供zei小化數(shù)據(jù)擬合算法和相矢量圖壽命分析；如，使用多圖相圖常規(guī)分析方法，不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過鑒定原始數(shù)據(jù)相矢量圖立即獲取（無需數(shù)據(jù)擬合），使得熒光壽命分析更簡便和準(zhǔn)確。激發(fā)波長488nm；發(fā)射光譜通過635nm長通濾波器；掃描區(qū)域：20μm×20μm。
納米粒子熒光上轉(zhuǎn)換
Figure 3上轉(zhuǎn)換納米粒子共焦壽命成像，包含高空間分辨率光致發(fā)光強(qiáng)度和壽命。激發(fā)波長980nm，發(fā)射波長509-552nm。掃描區(qū)域20μm×20μm
